YBCO薄膜微结构的表征

	YBCO薄膜微结构的表征
	刘翠秀; 陈向明; 唐卫华; 王勇; 徐明; 麦振洪; 贾全杰; 郑文莉; 姜晓明; 高矩
刊名	高能物理与核物理
	2001
期号	S1 页码:96-99
关键词	YBcO x射线技术微结构
其他题名	MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF YBCO THIN FILMS GROWN ON YSZ
中文摘要	用X射线衍射技术和扫描电镜详细表征了生长在Y-zrO2(YSZ)衬底上YBa2Cu3O7- (YBCO)薄膜的微结构.结果发现,采用Eu2CuO4(ECO)做缓冲层,可以提高YBCO薄膜的质量,而不改变其超导性能.
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223188]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心高能物理研究所_粒子天体物理中心中国科学院高能物理研究所_人力资源处
推荐引用方式 GB/T 7714	刘翠秀,陈向明,唐卫华,等. YBCO薄膜微结构的表征[J]. 高能物理与核物理,2001(S1):96-99.
APA	刘翠秀.,陈向明.,唐卫华.,王勇.,徐明.,...&高矩.(2001).YBCO薄膜微结构的表征.高能物理与核物理(S1),96-99.
MLA	刘翠秀,et al."YBCO薄膜微结构的表征".高能物理与核物理 .S1(2001):96-99.